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现代化工  2016, Vol. 36 Issue (12): 179-182    
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聚变堆真空室驻留氢同位素的激光诱导击穿光谱分析进展
何康昊,杨雷,李佩龙,文明,周帅,陈闽
(中国工程物理研究院,四川 绵阳621900)
下载:  PDF (1969KB) 
输出:  BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 聚变堆运行过程中,粒子流和能量流轰击真空室表面形成的沉积层是造成氢同位素驻留的重要原因。由于真空室苛刻的检测要求,采用非接触式分析,无需样品前处理的激光诱导击穿光谱(Laser Induced Breakdown Spectroscopy,LIBS)技术成为真空室驻留氢同位素分析的有力手段。作为传统氢同位素分析手段的重要补充,LIBS可为包层结构及驻留氢同位素去除工艺优化提供有力的技术支持。
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何康昊
杨雷
李佩龙
文明
周帅
陈闽
关键词:  真空室  氢同位素  激光诱导击穿光谱    
收稿日期:  2016-05-17               
中图分类号:O657.63 文献标志码:A 文章编号:0253-4320(2016)12-0179-04  
引用本文:    
何康昊, 杨雷, 李佩龙, 文明, 周帅, 陈闽. 聚变堆真空室驻留氢同位素的激光诱导击穿光谱分析进展[J]. 现代化工, 2016, 36(12): 179-182.
链接本文:  
http://www.xdhg.com.cn/CN/  或          http://www.xdhg.com.cn/CN/Y2016/V36/I12/179
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